SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

SEM_130218-2(Berita – Bidang Pengelolaan dan Diseminasi Hasil Penelitian) Kegiatan seminar mengenai Scanning Electron Microscope (SEM) oleh PT. Multi Teknindo Infotronika dilaksanakan pada hari Selasa, 13 Februari 2018 bertempat di Ruang Pangea, Pusat Penelitian Geoteknologi LIPI.

Pembicara dari PT. Multi Teknindo Infotronika yang bertanggung jawab untuk pemasaran dan pemeliharaan produk, Bapak Wendy Nuari Hastawi menjelaskan secara umum mengenai produk teknologi untuk karakterisasi material nano yang di miliki oleh Thermo Fisher Scientific. Namun sejak tahun 2016 perusahaan tersebut telah diakuisisi oleh FEI. Pabrik FEI terbesar terletak di Republik Ceko, dimana pabrik tersebut merupakan satu-satunya pabrik FEI yang dibuka untuk umum. Produk- produk yang dimiliki oleh FEI diantaranya Scanning Electron Microscopes, Dual Beams, dan Transmission Electron Microscopes. Scanning Electron Microscope dapat digunakan untuk mengetahui struktur atau morfologi permukaan dari suatu sampel, Transmission Electron Microscopes digunakan untuk mengetahui bagian permukaan maupun dalam sampel dengan ketebalan sampel yang rendah. Sedangkan Dual Beams dapat digunakan untuk mengetahui bagian permukaan maupun dalam sampel dengan ketebalan sampel yang lebih tinggi dibandingkan dengan Transmission Electron Microscope.

SEM_130218-3Dalam seminar kali ini dijelaskan secara lebih detail mengenai Scanning Electron Microccope. FEI memiliki 4 jenis SEM, yaitu Q250, Quanta Series, Apreo, dan Verios Series. Berdasarkan kebutuhan pasar di Indonesia Quanta Series adalah tipe yang paling sering digunakan. Berbagai jenis sampel dapat dianalisa menggunakan Quanta Series, bahkan dapat menganalisis nanopartikel yang berada di dalam cairan. Tipe Quanta Series berdasarkan sumber elektronnya dibedakan menjadi 2 (dua) yaitu Tungsen dan FEG. Tipe FEG dapat digunakan untuk menganalisa sampel dengan ukuran dibawah 50 nm, sedangkan tipe Tungsen digunakan untuk menganalisa sampel diatas 100 nm. SEM tipe tungsten terdiri dari Quanta 250 dan Quanta 650. Rangkaian SEM Tungsen terdiri dari alat pencitraan mikro – nano, analisis kimiawi, dan In-situ nano proses yang merupakan rangkaian pilihan tambahan dalam satu kesatuan rangkaian SEM. Pencitraan mikro-nano terdiri dari magnification, detector, Environmental SEM (ESEM), image histogram, movie creator, smart scan, driff corrected frame integration dan automate montage. Untuk analisis kimiawi terdiri dari EDS/WDS/EBSD detector, sedangkan peralatan tambahan in situ nano proses terdiri dari cooling holder, heating holder, tensile holder, dan wet-steam. Kelebihan dari penambahan peralatan in-situ nano proses yaitu dapat dilakukannya eksperimen secara langsung di dalam SEM, sebagai contoh dapat dilakukan pendinginan (-25°C) maupun pemanasan (1000°C atau 1400°C) terhadap sampel dan dapat diamati secara langsung  perubahan yang terjadi pada sampel baik dalam bentuk gambar maupun video. Nilai perbesaran yang efektif dari SEM Tungsen yaitu 500.000x, perbesaran sampai dengan 1000.000x dapat dilakukan namun tidak dapat menghasilkan gambar dengan kualitas yang baik. Berikutnya mengenai daya listrik yang dibutuhkan untuk operasional peralatan SEM mencapai 3 KVA, namun perlu dipersiapkan daya berkisar 5-6 KVA untuk menjaga kestabilan operasional SEM.

SEM_130218-1Beberapa kelebihan yang dimiliki SEM tipe Quanta Series diantaranya tidak diperlukan adanya preparasi sampel seperti pengcoatingan, dan pengeringan terhadap sampel sehingga menjaga sampel tetap dalam kondisi yang natural. Selain morfologi sampel dengan adanya EDS dan EBSD detector pada SEM tipe Tungsen juga dapat diketahui unsur kimiawi, mineral, dan ukuran mineral yang terkandung dalam suatu sampel. Unsur kimiawi dapat diketahui dari spectrum warna yang dihasilkan masing-masing unsur. Sedangkan mineral dapat diketahui berdasarkan bentuk kristal dari masing-masing mineral. Resolusi detail gambar yang dihasilkan SEM tipe FEG lebih detail dibandingkan dengan SEM tipe Tungsen, namun kelemahannya SEM tipe FEG harganya relative lebih mahal dibandingkan dengan SEM tipe Tungsen. Untuk biaya perawatan baik SEM tipe Tungsen maupun tipe FEG, keduanya memiliki biaya perawatan yang jauh lebih rendah dibandingkan dengan biaya investasi awal pembelian alat tersebut. (veny)

 

It's only fair to share...Share on FacebookTweet about this on TwitterEmail this to someonePrint this page